EG&G SYS 215是一种X射线设备，用于测量材料在各种制造和研究应用中的性能。该系统配备了一个X射线源，在能量范围为8-25 keV，能量分辨率为0.2 eV。这提供了可用于进一步分析和检查的高分辨率图像。X射线源由带有黑匣子电源的发电机管理，为其提供产生图像所需的电源。黑匣子电源有数字显示屏，允许用户监控和控制X射线发射输出。此外,该单元还具有高精度准直仪,允许用户更改和控制X射线束的大小和形状。机器还装有探测器，用于测量X射线束的能量信号。这使用户能够确定正在检验的材料样品的性质。探测器以每秒60万个计数运行，峰值分辨率为1.7 eV。它还能够测量和记录X射线的位置、角度和方向。SYS 215可用于多种用途，包括无损检测、材料和合金表征。也适用于微量和纳米缩放材料的检测。该工具易于使用，适用于航空航天、汽车、电子和材料科学等多种行业。EG&G SYS 215提供高级X射线成像和分析功能,旨在产生高质量的图像。它的可移植性、准确性和可靠性使其成为广泛研究和工业应用的理想选择。