SIEMENS/BRUKER Aristos MX-CR是为材料科学和半导体过程监测研究而设计的下一代X射线设备。该系统提供了包括纳米材料成像、小面积分析和精确样品测量等功能的高级组合。它具有三向振动源，可以在三个维度上均匀照射样品，而无需进行测角样品旋转。这样可以以最小的移动精确测量小样本量。该单元能够利用可变的入射角,使用户能够修改各种照明参数,以实现所需的图像特性或突出显示特定的材料特性。该机器由与Windows和Linux操作系统兼容的高性能SCADA（Supervisory Control and Data Acquisition）工具控制。它提供各种自动控制,如样品加载、X射线过滤、样品处理和板载数据存储。该单元还包括互锁控制功能,以确保操作过程中的安全。此外，用户可以使用各种软件工具来正确分析获取的图像和提取重要信息。该资产还通过使用市场上最先进的高能X射线源提供增强的成像能力。利用可互换镜头，模型能够产生清晰、高分辨率的图像，揭示材料或结构的细节，直至原子尺度。利用过滤空气冷却和热补偿系统，确保高效、精确运行。该设备还配备了一个直观的用户界面，允许快速和易于操作。此外,它还配备了具有实时数据采集功能的大型触摸屏显示屏,用户可以一目了然地监视所有必要的参数。BRUKER Aristos MX-CR是当今最先进的X射线系统之一。它为用户提供了广泛的检测和分析小范围材料的高精度和精确度的能力。该设备是材料科学和半导体工艺监测领域研究人员和其他用户的宝贵工具。