RIGAKU TXRF 3750是一种全反射X射线荧光（TxRF）分析设备，设计用于对各种浓度的样品进行定量和半定量元素分析。它是一种可靠高效的工具，旨在优化样品吞吐量，并在各种样品矩阵中提供可靠的结果。该系统采用低噪声、无窗设计，每天可高吞吐量达400个样品。TXRF 3750可以测量六个范围内最多25种元素的样品，从可检测到的最高浓度水平到较低浓度水平。RIGAKU TXRF 3750有一个产生X射线的高频源，然后聚焦到样品上。X射线从样品表面的全反射被用来激发和电离样品的电子，使其发出次级X射线。然后由单位测量和分析次级X射线，以确定样品的元素组成。该机还设计用于优化对X射线性能的反馈。反馈功能提供了一个用户友好的平台,可根据需要调整和完善性能。坚固的光学元件以及透明的石英样品支架确保了对不同形状样品的准确分析。分析通过RIGAKU开发的软件可追溯，其中包括多元素数据计算、半定量模式、自动样本识别选项、分解计算等功能。集成PC还提供直观、易于使用的触摸屏界面。此外,该工具设计为无维护,具有板载监控资产和硬件强制维护间隔。这样可确保TXRF 3750以最高性能运行。该型号还设计为快速高效运行，处理速度为2500字/秒。此外，该设备设计为在危险环境中运行，内置气体过滤系统，以确保分析区域不受空气中颗粒的影响。总体而言,RIGAKU TXRF 3750是一个先进、通用、可靠的分析单元。它的无窗设计、高吞吐量和灵活性使其非常适合各种元素分析应用,从简单到复杂的样本。