VEECO GXR-300 X射线设备是一种用于材料科学分析和电气测量的高科技、可靠的3D成像解决方桉。该系统具有先进的300kV X射线源,有助于提供精确、详细的微电子结构和材料图像,以确定其特性,如密度、成分等。该单元通过提供快速、快速的三维成像功能和利用直观的图形用户界面来提高操作员的生产效率。它具有广泛的X射线源、探测器和其他组件的灵活性,允许用户配置机器以满足其独特的应用需求。GXR-300还提供各种分析工具,例如自动化缺陷和测量工具、3-D导航工具、可靠的线路扫描插值、集成到自动化处理系统的多种功能,以及用于数据管理和3-D卷操作的软件。这使得研究人员能够通过提供与传统（宏观）EDX分析直接相关的优秀X射线图像来准确地研究材料。可以对VEECO进行各种检查方法GXR-300从晶片上的电特性映射到半导体特征的3D X射线成像，以便进行测量和比较。GXR-300是高端大面积C-SEM成像的理想选择,用于确定晶片上的过程引起的缺陷,以及测量模具尺寸和螺距等各种特征。它还允许通过单次扫描从不同方向扫描样品到三维图像特征和材料属性，使这一工具成为研发新材料的一个很好的增强器。此外，样品可以在没有坐骑或样品持有人的情况下进行分析，因为持有资产可以支持包装、片材、太阳能电池等非标准应用。VEECO GXR-300以VEECO先进的BeamPath技术为锚点,该技术具有超精度X射线对准、长期稳定和漂移以及光束保护技术,以提供一致的高分辨率图像,并减少因环境条件而造成的图像变化。这个模型使得它成为研究人员和材料科学家的高效可靠的设备，他们需要一个强大的工具来调查他们的材料而不牺牲准确性或易用性。它是一种以价值为导向的设备,旨在提高吞吐量、降低人工成本和最大限度地提高生产率。