DAGE XD 7500NT-750是一种用于深度成像的高性能、高精度的X射线成像设备。该系统用于广泛行业的电子元件、组件和材料的无损检测。该单元具有高分辨率、高量子效率（QE） X射线探测器和可互换的高分辨率X射线源。它的探测器阵列面积为150 mm x 130 mm，像素大小为1.8 μ m，最大帧速率为每秒200帧。机器上的高级成像功能包括工件还原、成像和对比度分辨率提高、抖动、求和和平移图像选择。XD 7500NT-750支持不同的成像过程,如单色、彩色、超对比度和视差图像采集。它还支持科学和宏观成像、PCB成像和缺陷检测。该工具支持网格和动态聚焦配准,允许跨不同类型的材料进行高质量的成像。也适用于保形和成像前的要求，如高频细像素大小配准。DAGE XD 7500NT-750旨在满足各种工业和科学应用的需求。凭借其最先进的功能,资产可帮助以极高的精确度定位和识别对象中的缺陷。它提供准确的3D成像数据,从而实现更快、更可靠的缺陷识别。此外，该模型还具有多个级别的X射线安全功能，可在危险环境中安全运行。XD 7500NT-750易于安装和操作-需要最少的维护。它附带了配置和定制设备以满足不同客户需求的工具。该系统具有用户友好的界面，便于使用和管理。总体而言,DAGE XD 7500NT-750是一款先进的X射线成像设备,具有高分辨率、高量子效率（QE） X射线探测器和可互换的高分辨率X射线源,可为各种应用提供高质量的成像。