PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830是一种X射线系统，广泛应用于工业应用，用于检测故障和缺陷。此设备具有极高的分辨率,能够检测到最小的故障。它具有广泛的应用范围，既可用于缺陷检测，也可用于分析非金属材料。PHILIPS PW 2830由源单元、探测器单元和控制单元组成。源单元包含一个X射线源和管、真空泵、电源、冷却风扇和控制设备运行的PCB。这个单元还能够调节X射线脉冲的能量和持续时间，从而允许最佳结果。探测器单元用于检测源单元生成的X射线。它由将X射线转换为可见光的闪烁屏幕和捕获这种光的CCD相机组成。探测器单元通过电缆连接到控制系统,该电缆允许传输控制命令和数据。控制单元负责控制源和探测器单元以及将检测到的X射线信号转换为数字图像。PANALYTICAL PW 2830提供了比25 µm更好的极高分辨率，这使得即使是最小的故障和缺陷也能被检测出来。它能够检查尺寸从0.8毫米到150毫米不等的样品。该设备可用于同时分析多达三个样本，设计用于快速、低噪声操作。它还配备了小波变换和图像增强滤波器等先进的信号处理技术，能够检测到甚至最小的缺陷。此外,PW 2830采用直观的软件界面,操作简单明了,用户可以快速轻松地调整曝光时间、胶片处理设置和图像增强滤镜等参数。PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830是一种可靠且用途广泛的X射线系统,在工业上具有广泛的应用。由于其分辨率高、操作快，是检测金属和非金属材料故障和缺陷的理想工具。