VEECO XRF-300 AT是一种先进的X射线荧光（XRF）设备，设计用于快速准确地分析样品。XRF是物理学和材料科学中用于样品元素组成分析的分析工具。这一尖端系统在研究和工业规模分析方面都有广泛的应用。XRF-300 AT有一个获得专利的硅漂移检测器，它允许高速，低功率元件分析。这种探测器也向后变薄，确保它能够探测到极低能量的X射线。结合高压发电机和刚性X射线源，能够产生高达300瓦的X射线功率，分辨率极佳，具有最佳精度和重复性。该设备具有一个通用的平台,可用于多种不同的样品类型,从粉末和溶液到材料片或薄膜。它利用可伸缩的样品支持平台和可互换的支架,以适应各种尺寸和形状,允许广泛的应用。该机器还提供使用U-mapper软件的自动分割,用于映射示例中的不同元素。VEECO XRF-300 AT配备了一台16位PC作为其基础计算机，并配备了20 µm步进分辨率的高速微控制器进行精确移动。电脑是内置的，准备使用Windows 2000操作工具运行，用户可以从同一平台选择其工作环境。总体而言,XRF-300 AT具备强大的高端性能,可用于准确可靠的元素分析。它结合了高质量的部件、样品支持阶段的精确移动以及高效的软件，使其成为各种应用的理想资产。无论是用于研究、过程控制还是生产，该模型都是精确元素分析的完美工具。