PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830是一种为工业应用而设计的X射线衍射仪设备。该系统能够分析广泛的样品类型，包括聚合物、多晶和单晶，甚至玻璃。它的高光泽X射线源和灵活的探测器选项提供快速和准确的测量。该单元由多个组件组成，包括X射线源、样品支架、移动机、测量塔和探测器。X射线源是一种高亮度钼阳极X射线管，可以提供可变强度的X射线辐射。样品支架将样品牢固地固定在适当的位置，而移动工具允许样品旋转和角移动。测量塔内装有X射线源、探测器和单色仪，用于过滤和测量X射线辐射。PHILIPS PW 2830在探测器及其放置方面是可定制的。选项包括Peltier冷却硅条探测器或闪烁探测器阵列,以及其他必要的硬件,例如真空光学器件和可调准直。它还提供了一个样品环境室和多吸尘器，用于进一步定制，包括在空气或真空中的高温测量。PANALYTICAL PW 2830的样本分析简单快捷。一旦样品被放置在样品支架中,并且检测器被选中并挂载,就可以简单地设置扫描参数并开始测量。数据实时采集，可以通过各种方式进行分析，如绘制相对强度、峰值位置、峰值强度或背景形状等等。通过对PW 2830样品的分析得出的数值可用于研究被测试材料的物理和化学性质。它将高质量的数据与用户友好的编程相结合，使得这种X射线衍射计成为广泛工业应用的理想资产。