BRUKER/ENRAF-NONIUS FR590是一种X射线衍射设备，允许对晶体材料进行高分辨率分析和成像。它旨在为用户研究小分子、大分子甚至纳米粒子的结构和性质提供一种精确便捷的方法。在操作中，X射线辐射通过待测样品传输。根据样品的类型,可以使用单个探测器或多个探测器来检测X射线。探测器系统与允许自动收集数据的高级软件包相结合。它还具有瞄准X射线能量的特定状态的能力，允许对样品进行更深入的检查。除了辐射源和探测器之外，BRUKER FR590的主要组成部分包括测角仪、发散狭缝和分析仪。测角仪是在X射线衍射测量过程中控制入射角的装置。发散的狭缝是一个狭窄的开口，X射线必须通过该开口才能到达样品。分析仪用于从探测器中选择特定的X射线能量。ENRAF-NONIUS FR590提供了广泛的应用程序和功能。它既可用于小分子和大分子研究，也可用于研究大分子、表面扩散、分层结构中的无序等。而且，通过利用多检测器设置，该单元可以在复杂的样品中解析不同的相位，允许对每个相位的大小、形状和组成进行精确的评估。该机器还包括数据收集软件的最新进展。自动化的软件例程使用户能够快速收集、处理、查看和分析数据。此外，该软件允许按样本定制数据采集和分析，使该工具具有高度的适应性和灵活性。即使是最复杂的实验，FR590也能提供准确可靠的结果。其先进的X射线检测和数据分析功能,以及一套功能强大的软件工具,使其成为任何希望更好地了解样本结构和特性的人的理想选择。