SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-3200是一种高压X射线设备，旨在提供高度精确的封装电子元件成像，而不会造成任何破坏或损坏。该系统能够生成高分辨率的3D图像,从而能够快速、精确地显示组件的内部结构和布局。该装置设计用于检查旧的和新的电子元件，并与各种工艺和基板兼容。SEIKO SFT-3200利用高压X射线技术以微米级精度捕获图像。X射线源是由钼製成的陶瓷阳极片，然后使用气枪向目标物体推进。这样可以确保非常短的曝光时间高达5毫秒，同时降低任何因热量和干扰而失真的风险。机床的成像距离可以从0到5毫米进行调节,从而实现高分辨率成像,而不会造成任何损坏。SII NANOTECHNOLOGY SFT 3200包含多项保护操作员的先进安全功能，包括机械联锁、紧急停止按钮和握手联锁。该资产配备了隔离高压电源、高灵敏度EHT检测器和隔离冷却模型。设备还包括触摸面板控制和图形用户界面，方便快捷操作，以及自动对焦检测、自动校准系统和边缘识别单元。SEIKO SFT 3200有一个高精度的分析程序，评估图像以确保可靠的准确性。机器可以分析图像中任意数量的特征，如模具尺寸、封装尺寸、焊接、线材尺寸、焊膜属性等元素进行精度分析。该工具的集成软件允许用户分析、审阅和存储图像结果以供将来参考，以及比较分析前后的数据。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT 3200可用于检查最大尺寸为10mm x 10mm的物体，包括精密元件、连接器和封装。该资产非常适合电路板和其他电子元件的高精度成像，以及各种研究、开发、验证和检查应用。其先进的成像和检测功能使其成为电子制造和元件诊断的宝贵工具。