SHIMADZU EDX-LE是一种最先进的X射线荧光（XRF）设备。它是一种适用于高精度EDX点分析的强大检测器，灵敏度高，噪声性能低。该系统基于高分辨率固态检测器和匹配电子单元的组合，是元素分析的理想选择。EDX-LE机通过分析X射线的能量分布和样品材料的特性来工作。X射线通过样品材料时被散射，在某些能量下产生具有特征峰的光谱。将每个样品的X射线光谱与参考光谱进行比较，两个光谱的差异决定样品材料的元素组成。SHIMADZU EDX-LE最突出的特点是分析时间最短。探测器的灵敏度足以测量样品中元素的极小浓度。它具有快速的响应速率，允许短测量时间（低至1秒），为各种应用提供快速可靠的数据。EDX检测器利用四个半导体检测器测量低Z元素（质子数量低于氧气的元素），而使用两个移子发芽（BGO）检测器测量高Z元素。这与EDX-LE的高灵敏度和分辨率相结合,使其成为表面分析和良性和/或有害材料分析的理想选择。SHIMADZU EDX-LE随附的功能强大的数据采集和分析软件易于使用,并提供卓越的数据分析。软件能够快速分析数据点，提供准确的分析结果，然后在条形图或表格中清晰显示。此外,该工具允许用户导出数据以进行远程计算和报告。设计了EDX-LE的稳定性和可靠性。该资产配有冷却风扇以保持恒温和稳定的真空模型，以确保清洁的X射线环境。设备还被封装在隔音外壳中，确保低噪声操作。来自SHIMADZU的SHIMADZU EDX-LE系统将顶级性能与可靠性相结合,全部采用易于使用的软件包。其响应时间快，噪声操作低，数据精度优越，是各种材料高精度元素分析的理想选择。