RIGAKU TXRF 3750是最先进的全反射X射线荧光（TXRF）设备。该系统为固体和液体样品的高灵敏度元素分析提供了卓越的能力。它由用于激发的超快X射线管、允许最大X射线荧光信号的优化全反射几何形状和具有先进信号处理能力的CCD探测器组成。超快X射线管产生能量范围为10-90 keV的X射线，脉冲速率高达12 kHz，最大X射线通量。它提供波长调谐和光束大小的选择，为用户提供了激发能量和光斑大小的最佳控制。该单元的全反射光学器件允许激发X射线光束在样品表面撞击，并从样品表面实现全反射。这保证了样品对激发X射线通量的最大吸收，从而确保了来自荧光X射线光子的最大信号。机器中使用的CCD检测器提供了非常高的计数速率和分辨率，结合了关于X射线光谱的精确信息。CCD使用冷却的电荷耦合器件来测量X射线通量，并允许借助精密软件进行非常精确的光谱数据分析。TXRF 3750是不同表面性质样品元素分析的理想解决方桉。适用于原子序数在2-92之间的元素的定量，设计用于高通量操作，灵敏度优越，元素判别优越。该工具可用于分析溶解、蒸发和蒸发烧结样品，并以最小的背景辐射提供高计数率。资产中使用的软件用户友好，提供了参数设置和校准的全面信息。