BRUKER D8 Advance是一款顶级、最先进的X射线设备，用于X射线衍射和X射线荧光分析。它主要用于材料研究，是了解材料结构和组成的绝佳工具。该系统配有防反射涂层X射线源和各种探测器，包括高分辨率区域探测器和可交换发电机装置。它还包括一系列的样品环境选择，例如在任何给定压力下的惰性气体大气、样品持有者的选择以及高净功率薄膜结晶（TFX）样品环境。该单元还可根据特定用户需求进行高度定制。D8 Advance由Windows PC驱动，提供的软件极其用户友好，允许简单的数据和仪器控制。该机具有各种可用的测量模式，如小角度散射（SAS）测量、差分扫描量热法（DSC）和动态机械分析（DMA），以及自动化的平面内和平面外角度扫描。X射线是用微焦源产生的，该微焦源是kV稳定的，因此目前在湿实验室工具中可获得的最高总分辨率。此外，BRUKER D8 Advance利用小点探测器提供了改进的角度分辨率，非常适合测量强聚焦X射线。样品环境也非常灵活，在极低的压力下提供一系列惰性气体的测量。可用的样品持有者用途极为广泛，几乎可以容纳任何种类的样品。总体而言,D8 Advance在几乎任何种类的材料上都提供了无与伦比的性能。通过结合高效的样品持有者、BRUKER独特的X射线源和探测器以及直观的软件包，BRUKER D8 Advance为材料研究提供了无与伦比的性能和控制。