PANALYTICAL XPert Pro是来自PANALYTICAL的功能强大且用途广泛的X射线衍射（XRD）设备。在X'Pert Pro模型成功的基础上,PANALYTICAL X'PERT PRO提供了卓越的用户体验。它的通用平台提供了广泛的定性和定量分析功能,使XRD分析变得更加容易和快捷。X-PERT PRO具有多项提高系统性能的功能,包括高分辨率2D区域检测器、高精度和强健的样品更换器,以及用于更好的粒度测量和表征的新型粉末发生器。该单元提供了令人印象深刻的角度和样本位置范围，使用户能够进行各种各样的XRD实验。它可以测量角分辨率为0.010°2 θ和0.003°2 θ的粉末样品，以及分辨率为0.001°和0.0001°的单晶薄膜样品。PANALYTICAL X-PERT PRO还提供了具有直观用户界面的最新计算环境,用于数据分析和操作。在应用方面，XPert Pro设计用于材料表征和分析，包括晶体学分析、相位识别和量化以及材料结构测定。可用于研究金属、合金、陶瓷、化工、医药、聚合物等材料的微观结构。这台机器是理想的研发,以及质量保证.X'PERT PRO占地面积紧凑,对环境的影响最小。它被设计为一种安装和维护的微风，并且被设计为持续数年。它耗电量最小,可全面控制安全功能。此外,它还可以与其他PANALYTICAL工具和软件解决方桉集成,以获得专家XRD结果。总体而言,PANALYTICAL XPert Pro是用于高性能X射线衍射分析的理想解决方桉。它是一种经济实惠且可靠的工具,可提供强大而可靠的XRD功能。PANALYTICAL X'PERT PRO具有直观的用户界面、众多的功能以及最先进的计算环境,是对材料进行表征和分析的绝佳选择。