PANALYTICAL XPert Pro是一个功能强大的X射线系统，设计用于元素分析和微化学成像。它利用先进的X射线荧光（XRF）技术，以及专有的软件和硬件。PANALYTICAL X'PERT PRO由三大组件组成：X射线源、样品支架和检测器。X射线源是多层型X射线管，用于产生各种能量的X射线，瞄准待分析的样品。样品支架的设计是使样品相对于X射线源和检测器对准和精确定位，而检测器是一种能量色散的Si-Li传感器，用于检测和测量通过样品后发出的X射线的能量。所有这些组件都由嵌入式Linux操作系统控制，该操作系统还包含内置软件，用于分析X射线数据并以易于理解的图形格式进行报告，从而允许用户自定义数据。X-PERT PRO还包括多种分析技术，包括定性和定量元素分析、微量元素分析、轻元素分析以及检测和识别有机、有机-无机和无机化合物的能力。它也能够区分alpha和beta粒子，使得研究样品中重金属的行为成为可能。X'PERT PRO能够产生具有各种对比度选项的高分辨率图像和元素映射。它也可用于广泛的应用，包括表面剖析、薄膜分析以及小粒子和纳米粒子的成像。总体而言,XPert Pro是一个功能强大、用途广泛且易于使用的X射线系统,能够提供准确的元素分析、微化学成像和表面剖析。它是各行业广泛应用的绝佳选择，使客户能够根据准确的数据做出明智的决策。