BRUKER D8 Fabline是一种高性能的X射线设备，设计用于在小样本环境中成像和分析。适用于半导体计量学、X射线成像和光谱学等广泛应用。该系统配备了强大的X射线源、高分辨率探测器和各种附加组件，以优化其性能。D8 Fabline提供了性能和灵活性的独特组合。其强大而聚焦的X射线源产生足够的通量以进行高分辨率成像，而其探测器阵列则提供出色的图像对比度和分辨率。该单元还包括各种选项，以便进行量身定制的实验，包括样品持有者、样品定位阶段、成像滤波器、脉冲X射线系统和多个X射线源，从而实现多种成像和光谱模式。该机器支持AI的图像分析功能使用户能够自动检测和监视缺陷、包含物和其他材料特征。该工具对半导体、陶瓷、合金和塑料复合材料等多种材料进行高通量成像和定量分析。这种灵活性使用户能够对小型样品甚至单个特征进行详细的计量分析,从而实现高度精确的测量。此外，资产高度可靠和稳健。其专门的软件使参数和实验的设置更加高效和容易。该软件具有用户友好界面，可用于编程和自动化操作。其强大的分析能力包括广泛的后处理算法，可应用于图像以产生有价值的信息。总体而言,BRUKER D8 Fabline是一种先进的高性能仪器,可在小型样品环境中对各种材料进行高度精确的成像和分析。它易于使用和强大的设计使其成为任何实验室的宝贵资产。