PANALYTICAL PW 1510是为研究和工业应用而设计的X射线设备。该系统利用高强度X射线源为用户提供一系列光谱数据，具有从微观分析到全场质量控制分析的广泛应用。该单元还包括一个独特的光学检测机器，它允许检测甚至最小的变化，使用户能够看到各种材料上的可见和不可见的特征。PW 1510由单个X射线管组成，该X射线管在聚焦光束中发射X射线，通常安装在样品附近的支架上。该管可以设置为广泛的功率输出水平，允许各种衍射和成像特性。典型的测量几何也包括在刀具中,手动聚焦调整窗口也包括在内,该窗口允许调整梁的大小和强度。探测器由闪烁材料组成，它将X射线光束转换成可见光的光子。然后用电荷耦合器件（CCD）相机测量这种光，阵列为1024 x 1024像素。这种探测器能够在广泛的角度上捕获大量衍射峰，有助于对样品进行全面的分析。资产还附带一个集成软件包，这有助于简化复杂的分析测量。此软件包包括图形用户界面（GUI）,允许用户输入一系列变量,这些变量可用于创建数据的详细报告和图形。该软件还提供了用户可编程的功能,允许进行自定义分析和结果,然后可以存储这些分析和结果供以后参考。PANALYTICAL PW 1510在研究和生产应用方面都具有极好的灵活性和性能,包括识别制造过程中的杂质、检查成品中是否存在缺陷或异常,以及各种微观结构或化学分析。这个模型是一个强大的可靠设备，有许多有用的应用，是非常值得考虑的各种X射线相关分析。