PHOENIX Nanomex是一种独特的X射线系统，设计用于原位原子结构和材料分析。借助光学或电子显微镜，利用最新一代的探测器技术，用户可以分析纳米分辨率的材料结构。这款显微镜具有先进的机器人样品处理和分析能力，能够精确移动和定位样品，以最大限度地提高结果质量。Nanomex由三个主要成分组成：样品定位阶段、X射线源和探测器。样品定位阶段的设计能够对各种几何形状的样品进行高精度的处理。机器人驱动，舞台可以调整，以适应不同大小和形状的标本。X射线源配置为满足高分辨率X射线微分析和衍射实验的要求。该源支持广泛的元素分析光谱技术，如X射线荧光（XRF）和能量色散X射线光谱法（EDS）。它能够产生能量范围在15至50 keV之间的X射线，用于最佳成像。探测器从X射线源捕获信息并将图像处理成数字化形式。利用最新技术，PHOENIX Nanomex能够以个位数纳米分辨率检测碳到铀的元素。高速信号输出使样品能够快速、低噪声成像，使用户能够高精度地获得样品的详细结构。Nanomex的其他功能包括大视野、增强模式识别和漂移校正以提高准确性，以及用户定制的用户友好软件。最先进的检测和控制系统旨在通过提供卓越的成像和分析能力来满足各种应用程序的需求。PHOENIX Nanomex具有在X射线微分析中达到最高分辨率的能力，是研究纳米结构和材料的理想工具。